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    時代膜厚儀技術參數
    點擊次數:2129 更新時間:2011-05-25

    涂層膜厚儀——技術參數表:

    測頭類型
    N
    測量原理
    電渦流
    測量范圍
    0-1250um/0-40um(銅上鍍鉻)
    低限分辨力
    1µm(10um以下為0.1um)
    探頭連接方式
    一體化
    示值誤差
    一點校準(um)
    ±[3%H+1.5]
    兩點校準(um)
    ±[(1%~3%)H+1.5]
    測量條件
    zui小曲率半徑(mm)
    凸3    凹10
    基體zui小面積的直徑(mm)
    ф5
    zui小臨界厚度(mm)
    0.3
    溫濕度
     
    0~40℃
    20%RH~90%RH
     
    統計功能
    平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測試次數(NO.)、標準偏差(S.DEV)
    工作方式
    直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
    測量方式
    連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)
    上下限設置
    存儲能力
    15 個測量值
    打印/連接計算機
    可選配打印機/不能連接電腦
    關機方式
    自動
    電源
    二節3.6V鎳鎘電池
    外形尺寸
    150×55.5×23mm
    重量
    150g

    涂層膜厚儀——標準配置:
      主機

    z標準片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)
    z鐵基體
    z充電器
     

    涂層膜厚儀——執行標準:

    是一種超小涂層膜厚儀型測量儀,它能快速、無損傷、精密地進行非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量??蓮V泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化,特別適用于工程現場測量。 技術:    歡迎您的來電來函咨詢,我們將竭誠為您服務

      GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流方法
     
      J B/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀

      JG 818─93 《電渦流式測厚儀》

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